Nano Indenter® G200X
Nano Indenter® G200X
Nano Indenter® G200 시스템은 나노단위 역학 테스트를 위한 정확하고 유연한 사용자 친화적 기구입니다. G200X는 고속 컨트롤러 전자기능과 첨단 InView 소프트웨어를 지원하는 업그레이드된 인터페이스를 포함하여 KLA의 Nano Indenter® G200의 측정 역량을 향상시킵니다. G200X는 나노미터에서 밀리미터까지 6자릿수 이상의 변형을 포함하여 영률과 경도를 측정합니다. 또한 이 시스템은 폴리머 젤과 생물 조직의 복잡한 탄성율과 더불어 얇은 금속 박막의 크리프 반응(변형률 민감도)까지 측정합니다. 모듈러 시스템은 다양한 애플리케이션과 호환됩니다. 이에는 특정 주파수 테스트, 정량적 스크래치 및 마모 테스트, 통합 프로브 기반 이미징, 고온 테스트 및 맞춤 테스트 프로토콜이 포함됩니다.