Voyager® 1035: 딥 러닝, 속도 및 감도의 고유한 결합
10월 11일, 2021
반도체 칩 제조는 수천 개의 공정 단계로 이루어진 여정입니다. 각각의 단계는 베어 실리콘에서 최종 동작하는 반도체 칩으로 효율적으로 빠르게이 동하기...
모든 레티클 데이터를 분명하게 보여주는 KlearView™
9월 16일, 2020
복잡한 대량 생산 반도체 제조 공정에는 첨단 광학 및 극 자외선 레티클이 필요합니다. 레티클 결함이나 패턴 배치 오류는 생산 웨이퍼의...
SiC, GaN 기판을 위한 새로운 결함 검사 시스템
8월 27일, 2020
오늘 KLA Instruments는 파워 디바이스 응용을 위한 Candela® 8520 결함 검사 시스템을 발표하였습니다. 이 제품은 임무수행에 필수적인 지형학적이고 결정학적인 결함의...