KLA 致力于帮助汽车行业实现严格的电子质量标准。 为此，我们推出了四款新产品，以确保为汽车电子设备供电的芯片的高良率、可靠性和性能。

汽车电气化、自动驾驶和物联网的创新需要集成更多由半导体芯片驱动的电子设备。 当今的车辆包括数千个半导体芯片，它们充当车辆的眼睛、耳朵和大脑 —— 感知周围环境、做出决策和控制行动。 由于这些芯片的可靠性至关重要，芯片制造商必须在芯片被集成到车辆之前，找到方法来发现并减少晶圆厂中潜在的芯片故障。

KLA 的工艺控制系统帮助芯片制造商满足汽车行业严格的质量标准。 三个新的检测系统在芯片制造的所有阶段为更大的设计节点设备提供缺陷发现、监控和控制。 此外，一个创新的线上自动筛选解决方案可帮助晶圆厂确保汽车芯片符合严格的质量标准。

Surfscan^® SP A2 和 SP A3 无图形晶圆检测系统通过检测影响芯片良率和可靠性的关键缺陷和表面质量问题来支持工艺和工艺工具的鉴定和监控。

C205宽带等离子光学带图形晶圆检测系统对研发和生产产能爬坡具有高灵敏度，可发现并准确分类关键缺陷，生成可用于提高芯片可靠性和良率的可操作数据。

在大批量制造过程中，8935 高产能带图形晶圆检测系统支持通过高晶圆采样捕获各种关键缺陷来识别与良率或可靠性相关的偏差。

I-PAT^®（在线缺陷部件平均测试）解决方案在 KLA 检测和数据分析系统上运行，帮助汽车芯片制造商识别异常缺陷群体，以便在风险芯片进入供应链之前在晶圆厂中将其移除。

更多信息可见我们的新闻稿。

新产品组件扩展了 KLA 全面的检测、量测、数据分析和流程系统组合，支持汽车电子生态系统的多个部分。 查看 KLA 系统如何支持汽车计划，如持续改进计划、零缺陷目标等，请访问我们的汽车解决方案页面。